场发射透射电子显微镜FE-TEM

技术参数：

1、肖特基热场发射电子枪，HR极靴；

2、合轴电压：200/80kV；

3、STEM分辨率： 0.14nm@200kV, TEM分辨率：0.10nm@200kV；

4、双能谱仪探测器总面积：200mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka)；

5、Rio相机读写最大读写速度：160fps@1024*1024。

功能介绍：

1、TEM模式下可获得材料的微区形貌、高分辨晶格条纹像，选区电子衍射；

2、STEM模式下可获得材料的BF、DF、HAADF等图像，结合EDS可进行点、线、面扫描能谱分析；

3、搭配冷冻或原位样品台，可实现低温，原位气/液/电/热TEM/STEM实验；

4、4D-STEM可收集4D-STEM数据及后期创建包括BF、ABF、LAADF、HAADF等图像。