透射电子显微镜TEM

透射电子显微镜TEM

仪器型号JEOL JEM-2100plus

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服务周期收到样品后10个工作日内完成

详细描述

技术参数:

1、LaB6灯丝电子枪;

2、200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm,线分辨率: 0.14 nm;

3、能谱仪探测器面积:80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka);

4、相机图像采集最大帧率30 fps。

 

功能介绍:

1、材料的形貌拍摄:可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息;

2、结构表征:高分辨晶格条纹像,选区电子衍射;

3、成分分析:可对样品进行能谱点扫;

4、配合原位/低温样品台可进行多相多场(气/液)原位实验、低温冷冻实验。