双球差校正透射电子显微镜AC-TEM

技术参数：

1、合轴电压：300/200/80/60kV;

2、分辨率：STEM: 59pm@300kV, 82pm@200kV, 111pm@80kV, 136pm@60kV, TEM: 70pm@300kV, 80pm@200kV, 100pm@80kV, 100pm@60kV;

3、双能谱仪探测器总面积：316mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka);

4、一体化EELS-GIF, EELS能量分辨率≤0.4eV;

5、Oneview相机读写最大读写速度：300fps@512*512；

6、K3相机最大1500 帧全幅读出。

功能介绍：

1、 材料形貌、电子衍射、高分辨/原子级成像及成分分析；

2、低剂量束敏感材料原子结构，轻元素成像；

3、材料电子结构分析；

4、三维结构分析；

5、多相多场（热/电）原位实验，低温冷冻实验；

6、4D-STEM数据及后期创建包括BF，ABF, LAADF, HAADF, DPC图像。