多晶X射线衍射仪XRD

技术参数：

1、采谱角度范围覆盖1~90°；

2、2θ角度范围测NIST 标准SRM 640 Si粉的角度精度（Mo靶）：优于±0.01°/2θ；

3、探测器探测半径≥300mm，探测器分辨率优于0.023°。

功能介绍：

1、通用能力上，可以用于混合物相的定性分析，样品的对照分析，晶体物相的定量分析;

2、原位表征能力上，配备软包电池变温（-180~450℃）附件、模型电池样品架，满足软包和模型电池充放电原位实验需求；

3、可实现GiXRD分析、PDF分析，配备Cu/Mo光管，实现反射和透射两种模式。