
台阶膜厚仪
仪器型号Bruker Dektak XT
预约次数0次
服务周期收到样品后5个工作日内完成

仪器型号Bruker Dektak XT
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技术参数:
1、垂直方向分辨率: 可达 1A ( 在 6.55pm 量程范围内)|,2 μm 钻石材质半径探针,无防震台验收;
2、垂直方向扫描范围: 1mm,包含有 4 个量程, 分别为 6.55μm、 65.5μm、 524μm 、1000μm。 可根据不同测量范围一键切换不同量程, 无需更换扫描头, 使用更方便, 测量更精准, 误差更小;
3、水平方向单次扫描长度范围:55mm;
4、探针台阶高度重复性 :≤4A;
5、可放置最大样品厚度:50mm。
功能介绍:
1、釆用成熟的 LVDT 电感式传感器原理, 保证 Z 轴方向高分辨率测量, 兼顾使用精度和可靠性;
2、自动样品台, 自动定位、 自动测量;
3、可做表面轮廓三维形貌测量, 配备相应的数据分析软件, 具备数据存储、处理、 输出功能;
4、具备薄膜应力测试功能。