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单分子超快光电测试系统
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高分辨环境控制原子力显微镜AFM
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双球差校正透射电子显微镜AC-TEM
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场发射透射电子显微镜FE-TEM
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收到样品后10个工作日内完成
透射电子显微镜TEM
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收到样品后10个工作日内完成
聚焦离子束扫描电子显微镜FIB-SEM
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场发射扫描电子显微镜SEM
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精研一体机
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收到样品后5个工作日内完成
三离子束切割机
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收到样品后5个工作日内完成
冷冻超薄切片机
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收到样品后5个工作日内完成
微束定点离子减薄系统(纳米精修)
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收到样品后5个工作日内完成
自动冷冻投入仪
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